题目:半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。
A. 半导体电阻率的变化
B. 半导体几何尺寸的变化
C. 贴片位置的温度变化
D. 供桥电源的变化
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