半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。

lk2025-01-01  6

题目:半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。

A. 半导体电阻率的变化

B. 半导体几何尺寸的变化

C. 贴片位置的温度变化

D. 供桥电源的变化

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